下面我们通过仿真波形来辅助分析SW上升沿震荡产生的原因：
图8：仿真波形图
截取SW电压和下管体二极管iD2的波形，我们将波形分为Ⅲ部分：
Ⅰ：t0-t1时刻，Q1和Q2都关断，此时电感L5的电流由二极管D2续流，可以看到SW有-0.7V左右的二极管压降；
图9：t0-t1时刻Ⅱ：t1-t2时刻，t1时刻，Q1开通，此时二极管D2会承受来自Vin的反压，导致二极管电流迅速减小，由于二极管本身存在反向恢复，所以会看到二极管电流会变负；在这个过程中，D2,L3支路的电流减小，因此会在电感L3上面感生出上正下负的电压，这就是t1-t2时刻，SW第一段阶跃的原因；此时二极管D2仍在导通，C2还未进行充电；
图10：t1-t2时刻Ⅲ：t2时刻之后，iD2的电流因为反向恢复变为负值，此刻进入第三阶段，谐振阶段；
谐振阶段又可分为对C2充电和对C2放电二个阶段，仿真波形中增加电感L1和L3的电流iL1和iL3。
通过仿真波形可以看到：
图11：谐振阶段波形图
t2-t3时刻，电感电流iL1同时对C2和L5充电，此时SW点电压慢慢爬升，由于SW点电压小于Vin电压，iL1电流不断增大，因为负载电流恒定，因此电感L3电流不断增大，直到SW电压等于Vin电压时，电感L1电流达到最大，C2继续被充电，SW电压高于Vin，之后电感L1电流开始减小，iL3也开始减小，直到为0，此时C2停止充电，SW电压到达最高点，且iL1等于负载电流；
图12：t2-t3时刻
了解SW上升沿尖峰产生的原因之后，我们看一下L1和L4的大小对SW上升沿尖峰有什么影响呢？
由于这两个寄生的电感的大小在实际的PCB中很难去精准量化，所以我们通过仿真的方式进行验证。仿真参数如下，通过选取4组不同的L1和L4的电感值，读取max(Vsw)值，结果如下：
图14：仿真结果图
通过仿真可以看到，L1与L4任何一个电感的感量大小都对下管SW上升沿尖峰的Max值都有影响，且L1与L4的感值越大，下管的SW的正向尖峰越大；
仿真参数如下：Vin=12V,Vo=0.8V,Io=40A,Fs=500K; L2=L3=500pH;C1=C2=5nF;Cin=40u,忽略寄生ESR,ESL;
下面我们介绍一下SW下降沿负尖峰产生的原因和影响因素。同样结合SW电压，iL1和iL3的电流仿真波形，可以看到：
图15：SW电压，iL1和iL3的电流仿真波形图
t0时刻，Q1关断时，Q2未开通时，输出电感L5电流可以近似认为不变，此时有两条电流支路为电感L5提供能量，分别为：
Loop1：L1-C1-L5-C3-L4-Cin-L1
Loop2：C2-L3-L5-C3-C2
其中Loop1的电流在减小，Loop2的电流在增加；对于电感L3来说，电感电流突然增加，就会感生出下正上负的电压，因此在SW的下降沿会看到负压；
图16：t0时刻电流流向图
通过仿真，L3分别选择不同的感值，仿真结果如下：
图17：L3分别选择不同的感值仿真结果图
通过仿真结果可知负压的大小跟寄生电感L3相关，且感值越大，负压越负。
同样我们用最小环测试Buck电路上管电压应力时，也会经常看到在上管关断时，VIN-SW出现很大的电压尖峰，这个尖峰过大，同样会损坏上管。下面我们看一下这个震荡尖峰产生的原因；
图18： VIN-SW电压尖峰
结合VIN-SW电压和电感L1和L3的电流iL1和iL3的仿真波形，根据iL1的过0点，把整个过程可以分为Ⅱ个段：
Ⅰ(t0-t1)：t0时刻，Q1关断，电感L1上的能量经过L1-C1-L5-C3-L4-Cin-L1对C1进行充电。 iL1电流不断减小，在iL1电流过0时，C1停止充电，此VIN-SW电压到达最高点，此时进入阶段Ⅱ；
Ⅱ(t1-t2)：t1时刻，当iL1过0时，由于C1电压大于Vin，因此C1经过C1-L1-Cin-L4-Q2-L3-C1进行放电，直到iL1电流为0，C1停止放电，VIN-SW电压下降到最低点，然后重复Ⅰ和Ⅱ这两个过程，由于线路寄生电阻的存在，最终VIN-SW电压稳定在VIN；
在整个过程中电感L5上的能量经过L5-C3-Q2 -L3-L5续流；
图19：VIN-SW、iL1和iL3仿真波形图及各阶段电流流向图
下面同样用仿真的方式看一下L1和L4的感值对Vin-SW尖峰的影响，依旧选取四组不同的电感参数。仿真结果如下：
图20：不同感值下的仿真对比图
由仿真结果可见L1和L4的大小都会影响上管关断时的电压应力，且感值越大，应力也会越大。
下面给大家分享一下不同的电压应力测试点，对实际的测试结果造成的影响。
当我们在实际测试下管电压应力时，由于芯片pin脚不容易点到，很多时候探头的GND会放在Cin cap的GND上，此时测量会引入寄生电感L4的影响。通过仿真波形可以看到：以Cin cap的负极为GND，SW上升沿尖峰测试会偏小，SW下降沿尖峰会偏大。
图21：电压应力测试点在Cin cap的GND上
当我们在测试上管电压应力时，如果探头的正极放在Cin cap的Vin上，此时测量会引入寄生电感L1的影响；通过仿真波形可知：此时测出的电压应力会比实际值偏小；
图22：电压应力测试点在Cin cap的Vin上
