MPS各位工程师，关于MPQ8636-20这颗料，在最近测试中发现空载测试情况下，芯片和电感发热比较大，输出功能没问题，但是实测SW波形不对劲，FREQ会在280khz到680之间跳动，而原理图中RFREQ设置为2.2MΩ，不存在虚焊，是什么原因导致的？麻烦帮忙看下！
有MPS工程师解答吗？
哈喽，测试空载发热是输入电压和输出电压为多少的情况下测试出来的？
我给到的是输入12v，输出5.6V的情况下
另外看图纸输出有采样电流，FB有额外注入，是否博主的应用做了恒流控制回路？
注入FB的是电流形式？
还是MCU出的PWM？ 如果是PWM建议FB下分压电阻增加C, 取值几十pf-几百pf试下。
或者先去掉R41的FB额外注入，看SW频率是否稳定，
如果还不稳定， 分析原理图看FB采样点是在采流电阻后的，Layout没有截全，不知道FB采样点离输出电容位置是否太远，可以在FB采样点再增加一个陶瓷电容试下看SW频率是否稳定。
芯片和电感正常也会有点发热的，还是要看实际温升，人的体感温度40-50℃就感觉烫了，另外可以监控一下FB的电压是否稳定，另外需要重点排查一下负载端有没有可能哪个地方短路了，导致你测试是空载，实际不是空载
好的，我排查一下，和之前的板子有做对比，温度是高出很多的，SW波形也很奇怪，请问是芯片工作不稳定吗？
你好，经过测试，波形以及芯片工作状态并没有得到改善，麻烦帮忙分析下！
从波形上来看，确实是芯片工作不稳定
推导比较复杂，加的R4会你duty变 分压网络等效就变了（上管开通期间Vin 通过R4到FB节点，），然后调电压的话必须要duty改变
用Baily提供的另一种的RCC斜坡补偿电路，把0R电阻换为1nf电容，隔离的R4带来的直流分量，分压网络调压的推导公式保持不变,
你好！经过尝试将0欧姆电阻换成10nf电容后，空载测试芯片的SW恢复稳定状态，不过VOUT发现比正常值高出0.6左右，是否是10nf电容过大？我将换成1nf再进行测试，另外在输入12v，输出6v，带载电流 从0到3A后，检测到sw波形由稳定状态变换为混乱状态，这是由于什么引起的？因为芯片正常是能带载20A的
- 比较怀疑的点是FB的采样，从你截图layout看确实离输出电容比较远，这样输出走线和采样电阻的寄生参数影响采样比较大，可否飞线一下FB网络，把上分压电阻高端摆开到焊盘一边，飞线到输出的大电容的点上
- 另外还有一种可能，斜坡补偿注入的幅值还不够，在带大负载的时候环路还是不稳定，可以试下把1M电阻改小，尽量不要低过300K吧。
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感谢！在通过方式1飞线后有了明显的改善，但是发现RCC补偿电路飞线CDC电容前，输出与dac与理论公式相符，飞线了CDC后整体输出电压均偏大，是和原公式有偏差，检测SW是稳定的，这会是寄生电阻带来的偏差吗？
CDC电容是哪个的电容，一般RCC单独走线(取点靠近取电感两端)，不用和FB走线一样取到输出电容